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X-谢线镀层测厚及金属分析仪/萤光X线膜厚计

更新时间：2024-06-24

FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技术标准ASTM及B568，DIN60987， ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量， 下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重， 还可以进行金属物料分析。

FiScherSCOp® X—RAY Systenl XDL® 一B及
XDLM@—C4是采用全新数学计算方法来进行镀层厚度
的计算， 在加强的软件功能之下， 简化了测量比较复
杂镀层的程序， 甚至可以在不需要标准片之下， 一样
可以测量。
它还采用*的焦距距离计算办法(DCM)， 操作
员现在可以随时改变焦距测量， 对一些形状复杂的工
件尤其方便。

FiSCherSCOp® X—RAY System XDL® 一B及XDLM® —C4功能包括： 特
大及槽口式的测量箱、 向下投射式X—射
线， 方便对位测量、软件在视窗98下操
作、 可在同一屏幕清楚显示测量读数及
工件的位置。

 
Fischerscop@X—RAY System XDL@一B及XDLM@一C4的设计是专门测量金属镀层厚度的
仪器， 它是采用WinFTMV．3的软件， 计算方面用了新的FP(FUrldamental Parameter)、
DCM(Distance Con“olled Measurement)及强大的电脑功能， X—RAY XDL —B及XDLM —
C4已经可以在不使用标准片调校仪器之下， 一样可以进行测量。

应用方面:
罩性金属镀层厚度测量， 例如Zn；Cr； Cu； Ag； Au； Sn等 合金(两样金属元素)镀层厚度测量， 例如： SnPb； ZnNi； 及NiP(无电浸镍)在
Fe上等
合金(三檬金属元素)镀层厚度测量， 例交口： AuCuCd在Ni上等
双镀层厚度测量， 例如：Au／Ni在Cu 上； Cr／Ni在Cu上；Au／Aq在Ni上；
Sn／Cu在黄铜上等
双镀层厚度测量(其中一层是合金层)， 例如： SnPb／Ni或Au／PdNi在青铜上等
三镀层， 例如： Cr／Ni／Cu在塑胶或在铁上
金属成份分析， 多可以分析四种金属元素

规格:
主机——高650mmx阔570mmx深740mrn； 重55kg
测量箱一高300mmx阔460mmx深500mm
XDL@—B： 圆形准值器一中0．3mm
XDLM@—C4：4倜准值器一中0．1 mm； 中O，2mm；
中0．3mm及0．05X0．3mm
X一射线向下投射
主机上有直接测量键
可调校X一射线管高压： 30kV，40kV或50kV
彩色显示测量位置， 焦距距离计算办法(DCM)大
焦距调节为80mm
外置式电脑(Pentium或同级)及VGA彩色屏幕
可选配自动或手动的测量台
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